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深圳市拓邦特機電有限公司

銅厚測量探頭 C30-P1
C30-P1探頭,用于配置BM-C30銅箔厚度測試儀,測量PCB表面銅箔的厚度創新的設計,確保探頭可以垂直測量,獲的更高的準確性和重復性,C30-P1探頭,有多種規格接頭供選擇,可適用于各種品牌的測厚儀。

特點:

1、快速(su)、精確、非(fei)破(po)壞性檢測銅箔厚度(du)

2、透明保護(hu)罩,確(que)保探頭垂直(zhi)測量

3、可(ke)更(geng)換式T1探(tan)針,用戶簡易更(geng)換,降(jiang)低(di)使(shi)用成本

4、柔軟、高強抗(kang)拉導線(xian)、豎實耐用

5、彈性伸縮接觸式探(tan)針避免(mian)銅(tong)箔(bo)劃傷,將探(tan)針放到銅(tong)箔(bo)表面開始測量

 

規格參數:

測量面積要求:大于40x40mm
導線長度:1.2米
尺寸(外徑×長):22×100mm
探針:4支

 

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