XU-100是(shi)一款高(gao)性(xing)價比型鍍層(ceng)測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀/膜厚(hou)測(ce)(ce)(ce)(ce)試儀/光譜測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)儀，采用下照(zhao)式(shi)C型腔體(ti)設計，搭(da)配微聚焦X射(she)線(xian)發生(sheng)器和(he)高(gao)集成垂直(zhi)光路(lu)系統，以及高(gao)敏變焦測(ce)(ce)(ce)(ce)距裝(zhuang)置，對各種大小(xiao)異形件都可快(kuai)速、精準、無損測(ce)(ce)(ce)(ce)量。?檢測(ce)(ce)(ce)(ce)各種金(jin)屬(shu)鍍層(ceng)，檢出(chu)限可達0.005μm，最小(xiao)測(ce)(ce)(ce)(ce)量面積0.2mm²，凹(ao)槽深度測(ce)(ce)(ce)(ce)量范圍可達0-30mm，是(shi)一款測(ce)(ce)(ce)(ce)量鍍層(ceng)厚(hou)度性(xing)價比高(gao)、適用性(xing)強的(de)機型。

產品特點

1.下照式設計?

可以(yi)快速(su)方(fang)便地定位對焦(jiao)樣品(pin)。?

2.高精密微型移動滑軌

快速精準定位樣品。

3.?微(wei)焦(jiao)X射線(xian)裝置

最小檢測面積可達0.2mm²的樣(yang)品(pin)，可進行各類電鍍層膜厚檢測。?

高效率正比接收(shou)器即使測試(shi)0.2mm²的樣品，幾秒鐘也能(neng)達到穩(wen)定性。

4.?變焦裝置算法

可(ke)對各種異形(xing)凹槽(cao)進行檢測，凹槽(cao)深度測量范圍可(ke)達0-30mm。?

5.先(xian)進(jin)的EFP算法(fa)

多層多元素，包(bao)括有同種(zhong)元素在不(bu)同涂鍍層的檢測，都(dou)可以快(kuai)、準、穩的做出(chu)數據分析。?

規格參數