XU-100是(shi)一(yi)款(kuan)(kuan)高(gao)性(xing)價比(bi)型(xing)鍍層測(ce)厚(hou)儀/膜厚(hou)測(ce)試儀/光譜測(ce)厚(hou)儀，采用(yong)下照式C型(xing)腔體設計(ji)，搭配微聚焦X射線發(fa)生器和高(gao)集成垂直光路系統，以及高(gao)敏變焦測(ce)距裝置(zhi)，對(dui)各(ge)種(zhong)大(da)小(xiao)異形(xing)件都可(ke)快(kuai)速、精準(zhun)、無損測(ce)量(liang)。?檢(jian)測(ce)各(ge)種(zhong)金屬鍍層，檢(jian)出(chu)限可(ke)達0.005μm，最小(xiao)測(ce)量(liang)面積0.2mm²，凹槽深度(du)(du)測(ce)量(liang)范圍可(ke)達0-30mm，是(shi)一(yi)款(kuan)(kuan)測(ce)量(liang)鍍層厚(hou)度(du)(du)性(xing)價比(bi)高(gao)、適用(yong)性(xing)強的機(ji)型(xing)。

產品特點

1.下照式設計?

可以快速方便地定位(wei)對(dui)焦樣(yang)品。?

2.高(gao)精(jing)密微型移動滑(hua)軌

快速精準定位樣品。

3.?微(wei)焦X射線(xian)裝置

最小(xiao)檢測面積可(ke)達(da)0.2mm²的樣品(pin)，可(ke)進行各類電(dian)鍍層膜厚檢測。?

高效率正比(bi)接收(shou)器(qi)即使測試(shi)0.2mm²的樣品，幾秒鐘(zhong)也能(neng)達到穩(wen)定性。

4.?變焦裝置算法

可(ke)對各種(zhong)異形凹槽(cao)進行檢測(ce)，凹槽(cao)深(shen)度測(ce)量范(fan)圍可(ke)達0-30mm。?

5.先進(jin)的EFP算法

多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層的(de)檢測，都可以(yi)快(kuai)、準、穩的(de)做出數據分析。?

規格參數