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深圳市拓邦特機電有限公司

進階版X-Ray透視檢測裝置X-7900
半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞率,并可以將缺陷幾何放大400X,檢測圖像系統放大2500X。
產品型號: X-7900
產品廠商: 瑞茂光學/rmi
關鍵詞: xray/點料器/零件計數器

介紹:

功能CNC程序:自(zi)動批量檢測樣(yang)品(pin)不(bu)同位(wei)置
陣(zhen)列功能:自動批(pi)量檢測位置固定、間距相同樣品
氣泡(pao)測量:一鍵(jian)測量氣泡(pao)大小、空洞率(lv)
長(chang)度(du)(du)(du)、寬度(du)(du)(du)測量(liang):測量(liang)部(bu)分檢測區(qu)域(yu)長(chang)度(du)(du)(du)、寬度(du)(du)(du)
可視化(hua)導(dao)航界面:檢(jian)測位置(zhi)精準定位
模擬顏色:更好觀察檢(jian)測(ce)圖像(xiang)
優勢

自動 ON/OFF X-RAY光管批量檢測樣

搭配高穩(wen)定性高精度X射線光

高分辨(bian)率數(shu)字(zi)X-RAY平板(ban)

載物(wu)臺可(ke)容(rong)納大量(liang)各種尺寸樣

可選載物臺(tai)360°旋轉檢測(ce)樣品
允許60°傾(qing)斜觀測


規格參數:

型(xing)號X-7900X-7900-S
X-ray 光管類(lei)型(xing)封閉式封閉式
空間分辯率3um5um
光管電(dian)壓130KV90KV
光管電流300uA200uA
放大倍率 450X 450X
數字平(ping)板探測器分辯率

1648*1644px

1648*1644px

數字平板(ban)探測器密(mi)度(du)值

16bit (65536)

16bit (65536)

圖像(xiang)速(su)度

30(FPS)

30(FPS)

平板旋轉(zhuan)角度60 °60 °
載物臺尺寸540*540mm540*540mm
檢測(ce)范圍(wei)510*510mm510*510mm
機器(qi)尺寸

1400*2010*2300mm(L*W*H)

1400*2010*2300mm(L*W*H)

機器重量1050KG1050KG
操作系統WINDOWS 10WINDOWS 10
電源/功率(lv)AC110-220V 50-60HZ 1200WAC110-220V 50-60HZ 1200W
輻射安全測試<1 uSV/H<1 uSV/H


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