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深圳市拓邦特機電有限公司

進階版X-Ray透視檢測裝置X-7900
半導體X-RAY檢測設備 X-7900可以檢測半導體3um的缺陷、一鍵測量汽包大小及空洞率,并可以將缺陷幾何放大400X,檢測圖像系統放大2500X。
產品型號: X-7900
產品廠商: 瑞茂光學/rmi
關鍵詞: xray/點(dian)料器/零件計數器

介紹:

功能CNC程(cheng)序:自動批量檢測樣品不(bu)同位置
陣列功(gong)能:自動批量檢測位置固定、間距(ju)相同樣(yang)品
氣泡測(ce)量:一鍵(jian)測(ce)量氣泡大小、空洞(dong)率
長度(du)、寬(kuan)度(du)測量:測量部分檢測區域(yu)長度(du)、寬(kuan)度(du)
可視化(hua)導航界面:檢測位置精準(zhun)定(ding)位
模(mo)擬(ni)顏色:更好觀(guan)察檢測圖像
優勢

自動 ON/OFF X-RAY光管批量檢測樣

搭(da)配高穩定性高精度X射線光

高分辨率數字X-RAY平板

載物臺可容納大量各種尺寸樣

可選載物臺360°旋轉(zhuan)檢測樣品
允許(xu)60°傾斜觀測


規格參數:

型號X-7900X-7900-S
X-ray 光管類(lei)型(xing)封(feng)閉式封閉式(shi)
空間分辯(bian)率3um5um
光管(guan)電壓130KV90KV
光管電(dian)流(liu)300uA200uA
放大倍率 450X 450X
數字平板探(tan)測器分辯率

1648*1644px

1648*1644px

數字(zi)平板探測器密度值

16bit (65536)

16bit (65536)

圖像速度

30(FPS)

30(FPS)

平(ping)板旋轉角度(du)60 °60 °
載物(wu)臺(tai)尺寸540*540mm540*540mm
檢測范圍510*510mm510*510mm
機器尺(chi)寸

1400*2010*2300mm(L*W*H)

1400*2010*2300mm(L*W*H)

機(ji)器重(zhong)量(liang)1050KG1050KG
操作系統WINDOWS 10WINDOWS 10
電源/功率AC110-220V 50-60HZ 1200WAC110-220V 50-60HZ 1200W
輻射安全測試<1 uSV/H<1 uSV/H


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