特點:
1、應(ying)用先進(jin)的(de)微電(dian)阻測(ce)試技(ji)術,符合EN14571測(ce)試標(biao)準。SRP-T1 探頭由(you)四支探針組成,AB為(wei)正極CD為(wei)負極;
測量時,電(dian)流由正極到負(fu)極會有微小(xiao)的電(dian)阻(zu),通過電(dian)阻(zu)值(zhi)和厚(hou)度值(zhi)的函數關(guan)系準(zhun)確可靠得出表面(mian)銅厚(hou),
不受絕緣板層(ceng)和(he)線(xian)路板背面銅層(ceng)影響
2、耗損(sun)的(de)SRP-T1探頭可自行更換(huan),為牛津儀器(qi)專利(li)產(chan)品
3、儀(yi)器的(de)照(zhao)明功能和SRP-T1探頭(tou)的(de)保護罩方便測量時準確定位
4、儀器(qi)具(ju)有溫(wen)度(du)補(bu)償(chang)功(gong)能,測量結果不(bu)受溫(wen)度(du)影響
5、儀(yi)器為工廠預校準(zhun)
6、測試數據通過USB2.0 實現高速傳輸(shu),可保存為Excel文件
7、儀器使用普通AA電池供電
規格參數:
厚度測量范圍: | 化學銅:0.25μm–12.7μm(0.01mils–0.5mils) 電鍍銅:2.0μm–254μm(0.1mil–10mil) |
線性銅線寬范圍: | 203μm–7620μm(8mil–300mil) |
儀器再現性: | 0.08μm at 20μm(0.003 mils at 0.79 mils) |
顯示單位: | mil、μm、oz |
操作界面: | 英文、簡體中文 |
存儲量: | 9690條檢測結果(測試日期時間可自行設定) |
測量模式: | 固定測量、連續測量、自動測量模式 |
統計分析: | 數據記錄,平均數,標準差,上下限提醒功能 |
配置:
CMI165主機
SRP-T1探頭
NIST認證(zheng)的校驗用標(biao)準片1個
CMI165主機
SRP-T1探頭