特點：
1、應用先進的(de)微(wei)電阻(zu)測(ce)試(shi)技術，符合EN14571測(ce)試(shi)標準。SRP-T1 探(tan)頭由四(si)支探(tan)針組成，AB為(wei)正極(ji)(ji)CD為(wei)負極(ji)(ji)；
測量時，電流(liu)由正極(ji)到負極(ji)會有微(wei)小的電阻，通過(guo)電阻值和(he)厚(hou)度值的函(han)數關系(xi)準確可靠得出表面銅厚(hou)，
不受絕緣板(ban)層(ceng)和線路板(ban)背面銅層(ceng)影響
2、耗損(sun)的SRP-T1探頭(tou)可自行更(geng)換，為牛津儀(yi)器專利產(chan)品
3、儀器的照(zhao)明(ming)功能和SRP-T1探(tan)頭的保護(hu)罩方便測量時準確定(ding)位
4、儀器具有溫(wen)度補償功能，測(ce)量結果不受溫(wen)度影響
5、儀器為工廠預校(xiao)準(zhun)
6、測試數據(ju)通過(guo)USB2.0 實現高(gao)速傳輸(shu)，可保存為Excel文件
7、儀器使用普通(tong)AA電池供電
規格參數：
| 厚度測量范圍： | 化學銅：0.25μm–12.7μm（0.01mils–0.5mils） 電(dian)鍍銅：2.0μm–254μm（0.1mil–10mil） |
| 線性銅線寬范圍： | 203μm–7620μm（8mil–300mil） |
| 儀器再現性： | 0.08μm at 20μm（0.003 mils at 0.79 mils） |
| 顯示單位： | mil、μm、oz |
| 操作界面： | 英文、簡體中文 |
| 存儲量： | 9690條檢測結果（測試日期時間可自行設定） |
| 測量模式： | 固定測量、連續測量、自動測量模式 |
| 統計分析： | 數據記錄，平均數，標準差，上下限提醒功能 |
配置：
CMI165主機
SRP-T1探頭
NIST認(ren)證的校驗用標準片1個
CMI165主機
SRP-T1探頭
長按屏幕識別二維碼
打開手機掃描二維碼
