PCB飛針測試指南:從入門到精通
制(zhi)造(zao)印(yin)刷電(dian)路板(ban)(PCB)的(de)過程包括一(yi)個關鍵的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)階段(duan)。每(mei)個電(dian)路板(ban)在離開(kai)中心之前必(bi)須經(jing)過測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi),以確(que)保制(zhi)造(zao)商能夠檢測(ce)(ce)(ce)到每(mei)一(yi)個電(dian)氣或電(dian)路問題。當一(yi)個PCB通過這個測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)時,它(ta)進(jin)一(yi)步確(que)保其可靠(kao)性。最(zui)常見的(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)方(fang)法(fa)包括電(dian)路板(ban)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(ICT)和飛針測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(FPT)。
飛針(zhen)測試是一種在制造過程(cheng)中使(shi)用探針(zhen)進行電子印刷電路板(ban)測試的(de)高(gao)精度和有優(you)勢的(de)選(xuan)擇,隨著小型電子產品的(de)增加(jia),它越來越受歡迎。了解更(geng)多關(guan)于飛針(zhen)測試及其好處。
什(shen)么是飛針測試?
飛針測試(shi)(shi)是指使用(yong)“飛”向測試(shi)(shi)點的(de)探針在制造過程(cheng)中測試(shi)(shi)電子印刷電路板的(de)過程(cheng)。
飛針測(ce)試儀利用一(yi)個(ge)或(huo)多個(ge)測(ce)試探(tan)針。這(zhe)些探(tan)針可以從上下兩(liang)個(ge)方(fang)向(xiang)接(jie)觸電路(lu)(lu)板上的測(ce)試點。它們然后在電路(lu)(lu)板上從一(yi)個(ge)位置(zhi)移動(dong)到另一(yi)個(ge)位置(zhi),以測(ce)試多個(ge)導(dao)線(xian)或(huo)元件。
它們按照一(yi)個程序的(de)(de)指示進行操作,該程序概述了正在進行測(ce)試的(de)(de)特定電路(lu)板(ban)。這(zhe)(zhe)(zhe)些(xie)機器(qi)使(shi)用(yong)高精度的(de)(de)針(zhen)來(lai)確保(bao)PCB正常(chang)運行。這(zhe)(zhe)(zhe)些(xie)系統不需要任何(he)測(ce)試夾具或定制工具。探針(zhen)在訪問(wen)電路(lu)板(ban)方(fang)面幾(ji)乎沒有(you)限制,可(ke)以測(ce)試具有(you)無數導線的(de)(de)電路(lu)板(ban)。這(zhe)(zhe)(zhe)使(shi)得飛針(zhen)測(ce)試成(cheng)為早期開(kai)發階段(duan)的(de)(de)電路(lu)板(ban)的(de)(de)一(yi)種具有(you)成(cheng)本效益的(de)(de)選擇。FPT也非常(chang)適用(yong)于低到中等產量的(de)(de)生產。
許多人認為飛(fei)針(zhen)測(ce)試是測(ce)試印(yin)刷電路板(ban)的(de)最(zui)經過(guo)驗證(zheng)的(de)方法。它可(ke)以(yi)進(jin)行以(yi)下非動力測(ce)試:
- 電容
- 二極管檢查
- 電感
- 斷路
- 電阻
- 短路
這種測試方法已經存在了20多年(nian),比其他方法如(ru)電路板測試更長。
什(shen)么(me)是測試架測試?
測試架測試是(shi)指使(shi)用單獨的探針與印刷電(dian)路(lu)板上的每個測試點進行(xing)接(jie)觸(chu)的系統。它們檢查任何組(zu)裝缺陷和正確的功能。
ICT更適合(he)于大批量生產,因為每個PCB的組裝(zhuang)都需要定(ding)制測試夾具(ju)。由于印刷電路(lu)板組裝(zhuang)的復雜性,這些夾具(ju)通常(chang)非常(chang)昂貴。
無論是電路(lu)板測(ce)(ce)試還(huan)是飛針測(ce)(ce)試,都是測(ce)(ce)試PCB性能的有效系統。
飛(fei)針測(ce)試(shi)的工作(zuo)原理
飛針測試(shi)過(guo)程相對簡單,可(ke)以分為以下三個步驟:
第一步(bu) 在(zai)開始之前,您必須創建(jian)一個飛針(zhen)測(ce)試的測(ce)試程(cheng)序(xu)。測(ce)試程(cheng)序(xu)通(tong)常在(zai)離(li)線(xian)PC上(shang)使(shi)用測(ce)試程(cheng)序(xu)生(sheng)成應用程(cheng)序(xu)開發。這(zhe)些(xie)應用程(cheng)序(xu)通(tong)常需要(yao)以下(xia)組裝:
Gerber文(wen)件(jian)(jian) 物料(liao)清單(BOM) 電子計(ji)算機輔助設計(ji)(ECAD)文(wen)件(jian)(jian) BOM應該是(shi)EXCEL格式,而ECAD文(wen)件(jian)(jian)需要(yao)是(shi)CAD文(wen)件(jian)(jian)。
第二步 創建測(ce)(ce)試程序后,就可(ke)以(yi)將其(qi)加載到(dao)測(ce)(ce)試儀器內的(de)傳送帶上。電路板(ban)(ban)在(zai)傳送帶上移動到(dao)測(ce)(ce)試區域,在(zai)那里進行探針操作。電路板(ban)(ban)可(ke)能是單個(ge)的(de),也可(ke)能有多個(ge),測(ce)(ce)試將取決于程序控制。
第(di)三步 探針(zhen)可以根據測(ce)試程序在電路(lu)板上“飛行(xing)”。它們使(shi)用(yong)測(ce)試信號(hao)在電路(lu)板的(de)各(ge)個(ge)點上進行(xing)電氣和(he)功能測(ce)試。測(ce)量結果將進一步處理,以確(que)定(ding)特定(ding)電路(lu)部分是否符合預期(qi)。
如果(guo)電路板未(wei)達到預期結果(guo)或偏離了設定的程序,探針將(jiang)發出信號表(biao)示該單元存在缺陷,因(yin)此未(wei)通過測試。
飛針(zhen)測(ce)試的9個優勢(shi)
利用飛(fei)針測試有許(xu)多(duo)優(you)點。以下是將(jiang)飛(fei)針測試納入印刷電(dian)路板組(zu)裝過程中的一些最重要的好處:
成本效益
與電(dian)路板測(ce)(ce)試等替代方(fang)法相(xiang)比,飛針測(ce)(ce)試是一種更具成本效益的方(fang)法,特別是在對小規模產品進(jin)行測(ce)(ce)試時。
前期成本低
與電路板測試相(xiang)比,飛針測試的前期成本較(jiao)低,因(yin)為飛針測試沒有(you)與測試夾具相(xiang)關的費用。
適用于小到中等規模的生產
由(you)于(yu)開發成本低、開發時間短,飛針(zhen)測(ce)試非常適合低產量生(sheng)(sheng)產。盡管它們不適合大規模(mo)生(sheng)(sheng)產,但仍可以用于(yu)樣品(pin)和原型。
更大的靈活性
飛針測(ce)試的(de)(de)自動化使得可(ke)以更(geng)(geng)靈活地(di)進行測(ce)試更(geng)(geng)改(gai)。盡管(guan)在一些(xie)更(geng)(geng)復雜的(de)(de)測(ce)試上有一些(xie)限(xian)制,但這種方法(fa)仍然有益。
準確性和精度
測試探針可(ke)以精確(que)定位,具(ju)有(you)很(hen)高的準確(que)性和可(ke)靠(kao)性。飛針非常精確(que),有(you)助于防止成(cheng)品出現問題。
短的開發時間
飛針測(ce)試的運行時間根(gen)據其(qi)大小(xiao)而變(bian)化。在大多數情況下,每(mei)塊電路板的測(ce)試時間大約為五到十五分鐘。
高科技功能
飛針測試開始(shi)包括(kuo)相位差測量(PDM)單元和(he)微短路檢測等高科技功能。
較少的定制工具
飛針測試不需(xu)要像電(dian)路板測試那樣的定制工(gong)具,這降低了前期成本和啟動時間。
最佳檢查
由于其極高的(de)準確性(xing),您可以將飛針測試與自動光學檢查(cha)(AOI)結合使用,以確認每個零件(jian)在印(yin)刷電(dian)路板上的(de)正確格式(shi)和放置。
FPT的其他考慮因素
在使用飛針測(ce)試時,還(huan)有一些因素需要考慮(lv),以提高其準確性并減(jian)少對PCB的損壞風(feng)險,包括以下(xia)內容:
清潔度
保持(chi)測試區域的清潔對于減少(shao)測試時間并提高(gao)結果的可靠性至(zhi)關重要。
尺寸
通過將訪問點保持在(zai)靠(kao)近位置,特別(bie)是對于大型電路(lu)板,可以縮(suo)短(duan)測試時間(jian)。
探針接觸點
具有易于訪問(wen)的探(tan)針接(jie)觸點(dian)可以降(jiang)低(di)成本(ben)并縮短測(ce)試時(shi)間。
請先 登錄(lu)后(hou)發表評論 ~